一、電路在線測試技術(shù)

1.1　在線測試原理

在線測試的基本原理是測試儀為印制電路板上的被測芯片提供輸入激勵(lì)，同時(shí)在計(jì)算機(jī)控制下自動(dòng)采集記錄被測芯片的輸出響應(yīng)和狀態(tài)值，通過計(jì)算機(jī)將其記錄的所有狀態(tài)值與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表比較，從而判斷被測對(duì)象的故障情況。

1.2 后驅(qū)動(dòng)測試技術(shù)

后驅(qū)動(dòng)測試技術(shù)主要用于數(shù)字電路的在線測試。其實(shí)質(zhì)是在被測器件的輸入級(jí)(前級(jí)驅(qū)動(dòng)芯片的輸出級(jí))灌入或拉出瞬態(tài)大電流，迫使其電位按要求變高或變低，達(dá)到對(duì)被測器件在線施加測試激勵(lì)的目的。

為了確保對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能測試，就必須強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)器件的邏輯電平，各腳驅(qū)動(dòng)器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)際防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)文件(00-53/1)所推薦的后驅(qū)動(dòng)安全標(biāo)準(zhǔn)，測試儀的大驅(qū)動(dòng)電流被設(shè)計(jì)為240mA，測試時(shí)間在200ms以內(nèi)。通過實(shí)驗(yàn)，基本能夠較好地對(duì)被測器件進(jìn)行隔離，同時(shí)也確保了被測器件的安全性。

二、測試儀組成

2.1硬件模塊

測試儀由便攜式計(jì)算機(jī)、單片機(jī)測試平臺(tái)及測試分析處理軟件構(gòu)成。其中單片機(jī)測試平臺(tái)在計(jì)算機(jī)控制下完成被測對(duì)象數(shù)據(jù)的采集，其基本原理框圖如圖1所示。各部分功能及說明如下：

單片機(jī)電路主要完成數(shù)據(jù)采集、控制、命令處理，與計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。在測試儀設(shè)計(jì)中采用了MCS-51系列8031單片機(jī)，選用2764作為擴(kuò)展ROM，6264作為擴(kuò)展RAM。譯碼芯片電路為74LS138。為與計(jì)算機(jī)進(jìn)行串行通信，采用MCl488和MC1489進(jìn)行RS-232C電平與TTL電平的相互轉(zhuǎn)換。單片機(jī)系統(tǒng)時(shí)鐘頻率選用6MHz晶振，通信波特率選用2400，單片機(jī)采用工作方式3進(jìn)行串行通信。定時(shí)器T1設(shè)置為方式2。設(shè)定SMOD=1，時(shí)間常數(shù)F3H。

總線驅(qū)動(dòng)器對(duì)單片機(jī)總線進(jìn)行擴(kuò)展，提高其驅(qū)動(dòng)能力，選用74LS244、74LS245線驅(qū)動(dòng)器。

驅(qū)動(dòng)控制電路主要完成測試過程中TTL、CMOS測試門限的控制，選用4重SPST(單刀單擲)DG211模擬開關(guān)，開關(guān)控制由譯碼電路及74LS373鎖存器完了成。為保證DG211開機(jī)時(shí)處于常開(OFF)狀態(tài)，控制線增加上拉電阻(10kΩ)。測試驅(qū)動(dòng)電路為被測芯片施加測試輸入信號(hào)，采用微型繼電器進(jìn)行輸入信號(hào)控制，測試信號(hào)由數(shù)據(jù)緩沖器74ACT244產(chǎn)生。為保證輸入電流達(dá)到設(shè)計(jì)要求，采用4路并聯(lián)方式。為防止損壞器件，增加LC網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行大電流緩沖，并設(shè)計(jì)二極管保護(hù)電路。

數(shù)據(jù)采集電路讀取被測芯片輸出響應(yīng)，采用雙電壓比較器LM393進(jìn)行輸出信號(hào)控制。它的功耗低，比較精度高，并且可與TTL邏輯相兼容。LM393輸出與74LS373數(shù)據(jù)鎖存器相聯(lián)，由單片機(jī)控制讀入比較數(shù)據(jù)。

電壓驅(qū)動(dòng)D/A電路完成VI測試過程中階梯電壓的輸出。采用8位并行D/A轉(zhuǎn)換器MC1408。芯片電源電壓為+5V，－12V兩種。參考電壓由恒流穩(wěn)壓源TL431提供。輸出選擇雙極性輸出，由兩級(jí)放大電LM348完成。

電流變換采集A/D電路實(shí)施測試點(diǎn)電流數(shù)據(jù)的采集。電路中采用負(fù)載電阻及差分放大電路LM343對(duì)測試點(diǎn)進(jìn)行電壓跟隨，將測試點(diǎn)的電流值轉(zhuǎn)換為A/D變換電路可以處理的電壓量。選用AD7574八位逐次比較式高速A/D變換電路。轉(zhuǎn)換時(shí)間為15μS，單+5V電源供電。參考電壓選用VREF=-8V。輸入電壓范圍為0~+|VREF|。程序控制芯片RD端產(chǎn)生一個(gè)負(fù)脈沖就可啟動(dòng)A/D轉(zhuǎn)換。

2.2 軟件模塊

測試儀由便攜式主控計(jì)算機(jī)通過串行口進(jìn)行控制，單片機(jī)測試平臺(tái)完成激勵(lì)控制、數(shù)據(jù)采集等工作，所有數(shù)據(jù)分析處理及命令控制由便攜式主計(jì)算機(jī)完成。整套測試軟件由主控軟件、數(shù)據(jù)通信軟件、離線測試軟件、在線功能測試軟件、在線狀態(tài)測試軟件、VI特性測試軟件、節(jié)點(diǎn)電壓測試軟件、電子手冊(cè)、測試開發(fā)軟件、系統(tǒng)自檢軟件等幾個(gè)主要模塊組成。
三、測試儀主要功能

測試儀采用電路在線測試技術(shù)，可以用來在線或離線測試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見故障，測試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。

數(shù)字芯片的功能測試測試的基本原理是檢測并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)(電源、地、高阻、信號(hào)等)、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。

測試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來，存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫中，然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較，從而準(zhǔn)確地找出故障部位。

VI特性測試分析該項(xiàng)測試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測試。測試儀通過測試探棒或測試夾自動(dòng)把被測點(diǎn)的特征曲線提取出來，顯示在微機(jī)屏幕上，后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí)，將實(shí)測到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。節(jié)點(diǎn)電壓測試由于測試儀測試對(duì)象不僅包括數(shù)字電路器件，也包括大量的模擬電路器件，為進(jìn)一步提高測試儀的適用范圍，在測試儀中采用了節(jié)點(diǎn)電壓測試技術(shù)。通過對(duì)被測對(duì)象施加工作電壓，由計(jì)算機(jī)讀取測試節(jié)點(diǎn)的電壓響應(yīng)值，并建立標(biāo)準(zhǔn)測試信息庫，供操作人員分析和判斷故障部位。

其它功能測試儀除以上主要功能外，還具備電子手冊(cè)、測試開發(fā)、系統(tǒng)自檢等輔助測試功能。